溫度濕度振動三綜合試驗設(shè)備

一、溫度濕度振動三綜合試驗設(shè)備是各類電子、電工、半導(dǎo)體通訊、LED、計算機、汽車配件、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備；高低溫濕熱老化試驗箱特別適用于LED光電、LED照明、光纖、LCD、液晶屏、晶體、電感、PCB電路板、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。
 

二、溫度濕度振動三綜合試驗設(shè)備結(jié)構(gòu)形式：
 

　　試驗箱采用整體結(jié)構(gòu)形式，由試驗箱體、制冷機組組合成一整體、電器控制柜(系統(tǒng))置于試驗箱正面右側(cè)。
 

　　試驗箱體采用獨立的內(nèi)外箱體結(jié)構(gòu)形式，其間采用聚胺脂整體發(fā)泡保溫而成。制冷/除濕機組置于試驗箱后側(cè)獨立的機箱內(nèi)，以減少制冷機組運行時的震動、噪聲對試驗箱的影響，同時便于機組的通風(fēng)、安裝及維護；
 

　三　滿足標(biāo)準(zhǔn)：
 

　　1、GB10485-89《防水試驗裝置標(biāo)準(zhǔn)》。
 

　　2、GB4208-2008《外殼防護等級(IP代碼)》。
 

　　3、GJB150.8-86《設(shè)備環(huán)境試驗方法淋雨試驗》。
 

　　4、以上列舉的為本設(shè)備符合的部分標(biāo)準(zhǔn),詳見設(shè)備使用說明書。
 

　　參數(shù)：
 

　　溫度范圍：0～+150℃,20～+150℃,40～+150℃,60～+150℃,70～+150℃
 

　　內(nèi)容積(L)：80、120、150、225、306、408、800、1000
 

　　內(nèi)部尺寸(W×H×D)㎝：40×50×40、40×60×50、50×60×50、50×75×60、60×85×60、60×85×80、100×100×801、100×100×100
 

　　快溫變范圍：-70機型:-50~+85℃(S),-40機型-20~+85℃(L),-20機型:0~+85℃(R).
 

　　升降溫速率：3℃/分,5℃/分,8℃/分,10℃/分,15℃/分鐘線性平均或非線性平均.
 

　　非線性時可達25℃/分鐘,若需特殊規(guī)格請洽詢本公司.
 

　　控制穩(wěn)定度：±0.5℃
 

　　分布均勻度：±1.5℃
 

　　溫度偏差：≤±2℃
 

　　正常升溫時間：-70℃~150℃小于60分;-40℃~150℃小于50分;-20℃~150℃小于35分.
 

　　正常降溫時間：+20~-70℃小于70分;+20~-40℃小于55分;+20~-20℃小于35分.