電子元件鹽霧試驗(yàn)箱

一、電子元件鹽霧試驗(yàn)箱用途

鹽霧試驗(yàn)機(jī)通過考核對材料及其防護(hù)層的鹽霧腐蝕的能力，以及相似防護(hù)層的工藝質(zhì)量比較，同時可考核某些產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的能力；該產(chǎn)品造用于零部件、電子元件、金屬材料的防護(hù)層以及工業(yè)產(chǎn)品的鹽霧腐蝕試驗(yàn)。 

二、電子元件鹽霧試驗(yàn)箱參數(shù)指標(biāo)：

溫度波動度：±0.5℃ 

噴霧量（m1/80cm2/h）1.0～2.0（至少收集16小時，取其平均值）

噴霧壓力：1.00±0.01kgf/cm2

藥水PH值：中性6.0～7.0    酸性3.0～3.1 

噴霧溶液PH值：中性6.5～7.2  酸性3.1～3.3

運(yùn)行時間：1S ～ 9990H 可任意設(shè)定

噴霧時間：1S ～ 999H 可任意設(shè)定；間隔周期：1S ～ 999H 可任意設(shè)定

三、鹽霧試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.17-2008鹽霧試驗(yàn)方法

GB/T 2423.18-2000《電工電子產(chǎn)品基本規(guī)程試驗(yàn)Ka》

GB/T10125-1997人造氣氛腐蝕試驗(yàn)_鹽霧試驗(yàn)

GB/T10587-2006鹽霧試驗(yàn)箱的技術(shù)條件

GB10593.2-1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法

GB/T1765-1979 測定耐濕熱、耐鹽霧、耐侯性(人工加速)的漆膜制測試

GB/T1771-2007色漆和清漆耐中性鹽霧性能的測定

GB/T12967.3-2008鋁及鋁合金陽極氧化膜檢測方法第3部分：銅加速

GB/T5170.8-2008以及等效的IEC、MIL、DIN、ASTM等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)